• Lietuviškai
  • English
  • Русский

AMTEST

amt@amtest.lt
+370 5 2388272
Laisvės pr. 117A-37
Vilnius
  • Lietuviškai
  • English
  • Русский
Susisiekite su mumis!
MENUMENU
  • Pradžia
  • Apie mus
  • Produktai
    • Radiografinė kontrolė
      • Rentgeno aparatai
      • Gamma spindulių projektoriai
      • Rentgeno juosta, įranga ir chemikalai
      • Skaitmeninė radiografija
      • Kompiuterinė radiografija
    • Ultragarsinė Kontrolė
      • Defektoskopai
      • Storio matuokliai
    • Sūkurinių srovių bandymai
    • Magnetinis - miltelinis metodas
    • Skvarbieji dažalai
    • UV technologija
      • UV lempos
    • Vizualinė kontrolė
    • Nuotėkio aptikimas
      • Vakuuminio metodo aprašymas
      • Vakuumo įranga ir medžiagos
    • Dangų ir dažų storio matuokliai
    • Universalios bandymų mašinos
    • Kietumo matavimas
    • Optinės emisijos spektrometrai (OES)
      • Mobilūs optinės emisijos spektrometrai
    • Kietumo matuokliai
    • Metalografija
      • Pjovimas
      • Presavimas
      • Šlifavimas ir poliravimas
      • Naudojamos medžiagos
    • Metalo cheminės sudėties analizatoriai
      • Rankiniai XRF analizatoriai
      • Rankiniai LIBS analizatoriai
      • Stacionarūs optinės emisijos spektrometrai (OES)
  • Partneriai
  • Kontaktai

Kategorijos

  • Radiografinė kontrolė
    • Skaitmeninė radiografija
    • Rentgeno aparatai
    • Gamma spindulių projektoriai
    • Kompiuterinė radiografija
    • Rentgeno juosta, įranga ir chemikalai
      • Ryškinimo mašinos
      • Rentgeno juosta ir chemikalai
        • Rentgeno juostos kokybės užtikrinimo priemonės
  • Ultragarsinė Kontrolė
    • Defektoskopai
    • Storio matuokliai
  • Sūkurinių srovių bandymai
  • Magnetinis – miltelinis metodas
  • Skvarbieji dažalai
  • UV technologija
    • UV lempos
  • Vizualinė kontrolė
  • Nuotėkio aptikimas
    • Vakuumo įranga ir medžiagos
    • Vakuuminio metodo aprašymas
  • Dangų ir dažų storio matuokliai
  • Universalios bandymų mašinos
    • Ekstensiometrai (ilgiamačiai)
  • Kietumo matavimas
  • Optinės emisijos spektrometrai (OES)
    • Mobilūs optinės emisijos spektrometrai
  • Kietumo matuokliai
  • Metalografija
    • Presavimas
    • Šlifavimas ir poliravimas
    • Naudojamos medžiagos
    • Pjovimas
      • Abrazyviniai pjovimo įrenginiai
      • Preciziniai pjovimo įrenginiai
  • Metalo cheminės sudėties analizatoriai
    • Stacionarūs optinės emisijos spektrometrai (OES)
    • Rankiniai XRF analizatoriai
    • Rankiniai LIBS analizatoriai

Vakuuminio metodo aprašymas

Amtest > Nuotėkio aptikimas > Vakuuminio metodo aprašymas

Nuotėkio aptikimas naudojant VPS įrenginius ir vakuumines dėžes pagal DIN EN 1593 (burbulo metodas)

Vakuuminis burbuliukų kontrolės metodas pagrįstas slėgio pokyčių registravimu uždarajame kontroliuojamo objekto tūryje. Vakuuminio metodo jautrumas priklauso nuo gaminio ertmės valymo nuo purvo, aliejų ir kt. Prieš kontrolę gaminio paviršius nuplaunamas tirpikliais ir nuvalomas.

Procedūra:

Naudojant VSP įrenginius, tiriamasis plotas (suvirinimo siūlė arba liejimo paviršius) sudrėkinamas putojančiu skysčiu. Tinkamos medžiagos yra vandeniniai tirpalai, naudojami suslėgto oro ir (arba) dujų įrangos bandymams, pvz. MR® 99 nuotėkio aptikimo purškalas. Negalima naudoti muiluoto vandens nuotėkiui aptikti. Tada plotas padengiamas vakuumine dėže, kuri tvirtai priglunda prie bandymo zonos. Vakuuminė dėžė yra sujungta su nuotėkio aptikimo įtaisu vakuumine žarna ir, paspaudus vožtuvą, išpumpuojama per kelias sekundes. Po išsiurbtos vakuuminės dėžes apžiūros stiklo nutekėjimo vietoje galima pastebėti susidariusius oro burbuliukus. Šis metodas leidžia lengvai rasti galimų nuotėkių vietas ir jas pašalinti. Praktinėmis bandymo sąlygomis burbulo bandymo metu pasiekiama nuotėkio aptikimo riba yra nuo 10-5 iki 10-4 Pa * m3 / s (nuo 10-4 iki 10-3 mbar * l / s). Kad būtų galima pastebėti net mažus nuotėkius, po dėže esantį vakuumą reikia palaikyti mažiausiai 30 s.

Copyright © 2022 Amtest. All rights reserved.

Contact Us
Свяжитесь с нами
Susisiekite su mumis