• Lietuviškai
  • English
  • Русский

AMTEST

amt@amtest.lt
+370 5 2388272
Sėlių g. 36-11
LT-08125 Vilnius
  • Lietuviškai
  • English
  • Русский
Susisiekite su mumis!
MENUMENU
  • Pradžia
  • Apie mus
  • Produktai
    • Karinė produkcija
      • Nešiojamos rentgeno sistemos saugumo reikmėms
        • Tiesioginės radiografijos sistemos
        • Priedai
        • Rentgeno spindulių šaltiniai
        • Programinė įranga
    • Pramonei
      • Radiografinė kontrolė
        • Rentgeno aparatai
        • Gamma spindulių projektoriai
        • Rentgeno juosta, įranga ir chemikalai
        • Skaitmeninė radiografija
        • Kompiuterinė radiografija
      • Ultragarsinė Kontrolė
        • Defektoskopai
        • Storio matuokliai
      • Sūkurinių srovių bandymai
      • Magnetinis - miltelinis metodas
      • Skvarbieji dažalai
      • UV technologija
        • UV lempos
      • Vizualinė kontrolė
      • Nuotėkio aptikimas
        • Vakuuminio metodo aprašymas
        • Vakuumo įranga ir medžiagos
      • Dangų ir dažų storio matuokliai
      • Universalios bandymų mašinos
      • Kietumo matavimas
      • Optinės emisijos spektrometrai (OES)
        • Mobilūs optinės emisijos spektrometrai
      • Kietumo matuokliai
      • Metalografija
        • Pjovimas
        • Presavimas
        • Šlifavimas ir poliravimas
        • Naudojamos medžiagos
      • Metalo cheminės sudėties analizatoriai
        • Rankiniai XRF analizatoriai
        • Rankiniai LIBS analizatoriai
        • Stacionarūs optinės emisijos spektrometrai (OES)
  • Partneriai
  • Kontaktai

Kategorijos

  • Karinė produkcija
  • Radiografinė kontrolė
    • Skaitmeninė radiografija
    • Rentgeno aparatai
    • Gamma spindulių projektoriai
    • Kompiuterinė radiografija
    • Rentgeno juosta, įranga ir chemikalai
      • Ryškinimo mašinos
      • Rentgeno juosta ir chemikalai
        • Rentgeno juostos kokybės užtikrinimo priemonės
  • Ultragarsinė Kontrolė
    • Defektoskopai
    • Storio matuokliai
  • Sūkurinių srovių bandymai
  • Magnetinis – miltelinis metodas
  • Skvarbieji dažalai
  • UV technologija
    • UV lempos
  • Vizualinė kontrolė
  • Nuotėkio aptikimas
    • Vakuumo įranga ir medžiagos
    • Vakuuminio metodo aprašymas
  • Dangų ir dažų storio matuokliai
  • Universalios bandymų mašinos
    • Ekstensiometrai (ilgiamačiai)
  • Kietumo matavimas
  • Optinės emisijos spektrometrai (OES)
    • Mobilūs optinės emisijos spektrometrai
  • Kietumo matuokliai
  • Metalografija
    • Presavimas
    • Šlifavimas ir poliravimas
    • Naudojamos medžiagos
    • Pjovimas
      • Abrazyviniai pjovimo įrenginiai
      • Preciziniai pjovimo įrenginiai
  • Metalo cheminės sudėties analizatoriai
    • Stacionarūs optinės emisijos spektrometrai (OES)
    • Rankiniai XRF analizatoriai
    • Rankiniai LIBS analizatoriai

Rankiniai XRF analizatoriai

Amtest > Metalo cheminės sudėties analizatoriai > Rankiniai XRF analizatoriai

Mobilūs rankiniai LIBS ir XRF analizatoriai teikia laboratorijos kokybės rezultatus praktiškai bet kur. Paprasti naudojime, rankiniai analitiniai prietaisai užtikrina baterijos veikimą visą darbo dieną su paprastu naudoti ekranu, kuris yra gana didelis, kad galima būtų pamatyti patikimus cheminės medžiagos identifikavimus ir medžiagų patikrinimo rezultatus. Turėsite patikimą ryšį su mūsų debesijos sprendimais ir didžiulėmis duomenų saugyklomis tokiu būdu padidindami produktyvumą.

Mūsų portatyvinių analizatorių pranašumai:

  • greiti
  • lengvai valdomi
  • mažos eksploatacijos išlaidos
  • tvirti ir patvarūs
  • Išsamiau

    Rankiniai XRF analizatoriai

  • Išsamiau
    XRF analyser

    Rankinis metalų analizatorius X-MET8000

  • Išsamiau
    LIBS vulcan

    Rankinis metalų analizatorius LIBS Vulcan

Copyright © 2023 Amtest. All rights reserved.

Contact Us
Свяжитесь с нами
Susisiekite su mumis